Uurimine teemalAlalisvoolvastupanu,
Alalisvool,

▍Mis on CTIA SERTIFIKATSIOON?

CTIA, lühend Cellular Telecommunications and Internet Associationist, on mittetulunduslik kodanikuorganisatsioon, mis asutati 1984. aastal, et tagada operaatoritele, tootjatele ja kasutajatele kasu. CTIA koosneb kõigist USA operaatoritest ja tootjatest mobiilsideteenuste, samuti traadita andmesideteenuste ja -toodete tootjatest. FCC (Federal Communications Commission) ja Kongressi toetamisel täidab CTIA suurt osa kohustustest ja funktsioonidest, mida varem täitis valitsus. 1991. aastal lõi CTIA erapooletu, sõltumatu ja tsentraliseeritud toodete hindamis- ja sertifitseerimissüsteemi juhtmevaba tööstuse jaoks. Süsteemi kohaselt peavad kõik tarbijaklassi traadita tooted läbima vastavustestid ja asjakohastele standarditele vastavad tooted saavad kasutada CTIA-märgistust ja jõuda Põhja-Ameerika sideturu poelettidele.

CATL (CTIA Authorized Testing Laboratory) esindab CTIA poolt testimiseks ja ülevaatamiseks akrediteeritud laboreid. Kõik CATL-i väljastatud testimisaruanded kiidab heaks CTIA. Kuigi muid mitte-CATL-i testimise aruandeid ja tulemusi ei tunnustata või neil puudub juurdepääs CTIA-le. CTIA poolt akrediteeritud CATL-id on tööstusharude ja sertifikaatide lõikes erinevad. Ainult CATL-il, mis on kvalifitseeritud aku vastavuse testimiseks ja kontrollimiseks, on juurdepääs aku sertifitseerimisele, et tagada vastavus standardile IEEE1725.

▍CTIA aku testimise standardid

a) Akusüsteemi IEEE1725-le vastavuse sertifitseerimisnõue – kehtib ühe või mitme paralleelselt ühendatud akusüsteemidele;

b) IEEE1625-le vastavuse akusüsteemi sertifitseerimisnõue – kehtib akusüsteemidele, millel on mitu paralleelselt või nii paralleelselt kui ka järjestikku ühendatud akusüsteemi;

Soojad nõuanded: valige mobiiltelefonides ja arvutites kasutatavate akude jaoks õigesti ülaltoodud sertifitseerimisstandardid. Ärge väärkasutage IEE1725 mobiiltelefonide akude jaoks ega IEEE1625 arvutite akude jaoks.

▍Miks MCM?

●Kõva tehnoloogia:Alates 2014. aastast on MCM osalenud igal aastal USA-s CTIA korraldataval akupakendite konverentsil ning on võimeline hankima uusimaid värskendusi ja mõista uusi CTIA poliitikasuundi kiiremini, täpsemini ja aktiivsemalt.

●Kvalifikatsioon:MCM on CTIA poolt CATL-i akrediteeritud ja kvalifitseeritud täitma kõiki sertifitseerimisega seotud protsesse, sealhulgas testimist, tehase auditit ja aruannete üleslaadimist.

Akude laadimise ja tühjenemise ajal mõjutab mahtuvust sisetakistusest põhjustatud ülepinge. Aku kriitilise parameetrina tasub aku lagunemise analüüsimiseks uurida sisetakistust. Aku sisetakistus sisaldab:
Ohmi sisetakistus (RΩ) – sakkide, elektrolüüdi, separaatori ja muude komponentide takistus. Laengute ülekande sisetakistus (Rct) – Sakkidest ja elektrolüütist läbivate ioonide takistus. See näitab vahekaartide reaktsiooni raskust. Tavaliselt saame selle takistuse vähendamiseks juhtivust suurendada. Polarisatsioonitakistus (Rmt) on sisemine takistus, mille põhjustab liitiumioonide tihedus katoodi ja anoodi vahel. Polarisatsioonitakistus on suurem sellistes olukordades nagu laadimine madalal temperatuuril või kõrge nimilaenguga. Tavaliselt mõõdame ACIR-i või DCIR-i. ACIR on sisemine takistus, mida mõõdetakse 1 k Hz vahelduvvoolus. Seda sisemist takistust tuntakse ka oomi takistusena. Andmete nappus seisneb selles, et need ei suuda otseselt näidata aku jõudlust. DCIR-i mõõdetakse sunnitud konstantse vooluga lühikese aja jooksul, mille korral pinge pidevalt muutub. Kui hetkevool on I ja pinge muutus selle lühiaja jooksul on ΔＵ, siis Ohmi seaduse järgi Ｒ＝ΔＵ／Ｉ saame DCIR. DCIR ei puuduta ainult oomi sisemist takistust, vaid ka laengu ülekandetakistust ja polarisatsioonitakistust. Liitium-ioonaku DCIR-i uurimisel on see alati keeruline. Selle põhjuseks on peamiselt see, et liitiumioonaku sisetakistus on väga väike, tavaliselt vaid mõni mΩ. Samal ajal on aktiivse komponendina sisemist takistust raske otse mõõta. Lisaks mõjutab sisemist takistust keskkonna olek, nagu temperatuur ja laengud. Allpool on toodud standardid, mis on maininud DCIR-i testimist.